Desde meados da década de 1990, quando o jogador de futebol americano O. J. Simpson foi a julgamento pelo assassinato da ex-mulher Nicole Brown e de seu amigo Ronald Goldman, o exame de DNA tem se revelado uma das principais ferramentas da ciência forense para a identificação de suspeitos.
Na época, o tempo entre a coleta da amostra na cena do crime e o término do relatório pelos especialistas não era menor que oito semanas. Hoje, em laboratório, já é possível realizar todo o processo em menos de uma hora. De lá para cá, também se tornou viável a realização do exame com amostras menores de DNA e em pior estado de conservação.
Um dos responsáveis pelos avanços nessa tecnologia é o americano John Marshall Butler, pesquisador do National Institute of Standards and Technology (NIST), dos Estados Unidos, que esteve em São Paulo na semana passada para um congresso. Na época em que o caso O.J. Simpson estava em evidência, o cientista ainda cursava o doutorado no laboratório do Federal Bureau of Investigation (FBI), em Washington.
Também nesse período estava sendo desenvolvida a tecnologia até hoje mais usada em exames de DNA no mundo inteiro, que consiste na análise de marcadores do tipo STR (Short Tandem Repeat, ou Regiões Repetitivas Polimórficas), únicos em cada indivíduo. Em sua tese, Butler desenvolveu um método para separar os fragmentos de DNA para a análise por meio de eletroforese capilar (técnica de separação de moléculas carregadas por meio de um campo elétrico). Isso permitiu automatizar algumas etapas do teste STR, tornando-o mais simples, preciso e possível de ser feito em oito horas.
Seu mais influente trabalho, no entanto, foi publicado em 2003 – época em que integrava o grupo de cientistas que orientou a identificação das vítimas do atentado terrorista ao World Trade Center, ocorrido em 11 de setembro de 2001.
No artigo “The development of reduced size STR amplicons as tools for analysis of degraded DNA”, publicado no Journal of Forensic Sciences, Butler e colaboradores descreveram um método conhecido como mini-STR, que tornou possível realizar o exame com amostras menores e mais fragmentadas de DNA.
“Havia muitos corpos carbonizados ou muito danificados pelo impacto do desabamento das torres. Precisávamos de métodos mais sensíveis”, disse em entrevista à Agência FAPESP concedida durante o 4º Congresso Brasileiro de Genética Forense, do qual foi um dos principais destaques.
O evento, realizado com apoio da FAPESP, reuniu no Memorial da América Latina, entre os dias 7 e 10 de maio, os mais renomados nomes da área.
Em sua apresentação, Butler – autor de quatro livros sobre o tema – falou sobre “O estado da arte do DNA forense” e revelou o que espera para o futuro: obter de uma amostra de DNA informações como cor de olho, cabelo, pele ou formato da face, para ajudar ainda mais a polícia na identificação de criminosos.
Agência Fapesp